Transmisní Elektonová Mikroskopie
JEOL 1010
JEOL JEM-1010
  • Urychlovací napětí: 40 - 100 kV
  • Katoda: Termoemise (W)
  • Rozlišovací schopnost: 0,4 nm
  • Tvorba obrazu: CCD Sis MegaView III 1392×1040×12bit
  • Vacuum: 10-5 Pa
Delong LVEM-5
Delong LVEM-5
  • Urychlovací napětí: 5 kV
  • Katoda: Schottkyho emise (W-ZrO)
  • Rozlišovací schopnost: TEM/STEM 2,5 nm, SEM 5nm
  • Tvorba obrazu: CCD Proscan 1300×1030×12bit
  • Vacuum: 10-7 Pa
Skenovací Elektronová Mikroskopie
JEOL 6300
JEOL JSM-6300
  • Urychlovací napětí: 5 - 30 kV
  • Katoda: Termoemise (W)
  • Rozlišovací schopnost: 11 nm
  • Tvorba obrazu: Tescan 2048×1536×8bit
  • Vacuum: 10-4 Pa
JEOL 7401-F
JEOL JSM-7401F
  • Urychlovací napětí: 0,1 - 30 kV
  • Katoda: Autoemise (W - monokrystal)
  • Rozlišovací schopnost: 1 nm
  • Tvorba obrazu: 1280×1024×8bit (průměrováním 10bit)
  • Vacuum: 10-7 Pa

Ultramikrotomy
Leica UCT
Leica UCT - s kryo komorou
Ulracut E Reichert Jung
Ulracut E Reichert Jung
LKB 8800 Ultrotome
LKB 8800 Ultrotome
Ultrotome NOVA LKB
Ultrotome NOVA LKB
Různé
LEICA EMAFS
LEICA EMAFS- Automatické zařízení pro metodu mrazové substituce a metodu PLT. Zařízení je vybaveno jednotkou pro UV polymerizaci.
Reichert MM 80E
Reichert MM 80E- Mražení pomocí kovového zrcadla
Leica EM PACT2
Leica EM PACT2- Vysokotlaký zamražovací systém s rychlým přesunem preparátu